分析紫外光譜儀的使用步驟
發(fā)布時(shí)間：2017/7/18 18:24:24 點(diǎn)擊次數(shù)：1583次
紫外光譜儀用于陶瓷、粉末冶金、稀土、電池、制藥、水泥、采礦、涂料、粘合劑、顏料、染料、炭黑、添加劑、煤、食品、飲料、保健及化妝品、高分子塑料等各種粉體材料及粉體添加劑的比表面分析。
紫外光譜儀的使用步驟分析如下：
一、紫外光譜儀開(kāi)機(jī)前的準(zhǔn)備
1．實(shí)驗(yàn)室溫度應(yīng)保持在15℃~30℃之間，相對(duì)濕度應(yīng)保持在45%~80%之間。
2．確認(rèn)樣品室內(nèi)無(wú)樣品。
二、紫外光譜儀開(kāi)機(jī)
1．開(kāi)啟總電源及UV-2450電源。
2．開(kāi)啟計(jì)算機(jī)電源，雙擊桌面上的UVProbe圖標(biāo)進(jìn)入操作系統(tǒng)。
3．在UVProbe界面上點(diǎn)擊[Connect]鍵，聯(lián)機(jī)并初始化。
三、在紫外光譜儀主菜單上選擇測(cè)定的方式：
?。?）點(diǎn)擊[Kinetics]鍵進(jìn)入動(dòng)力學(xué)測(cè)定方式：一般測(cè)定吸收值隨時(shí)間的變化，通常用于酶反應(yīng)隨時(shí)間的變化。
?。?）點(diǎn)擊[Photometric]鍵進(jìn)入光度測(cè)定（定量）方式：可進(jìn)行多波長(zhǎng)、單波長(zhǎng)、峰高定量。校準(zhǔn)曲線(xiàn)可使用多點(diǎn)、單點(diǎn)、K因子等方法。
?。?）點(diǎn)擊[Spectrum]鍵進(jìn)入光譜測(cè)定方式：可進(jìn)行紫外可見(jiàn)近紅外區(qū)的光譜測(cè)定。
四、紫外光譜儀參數(shù)的設(shè)定：
點(diǎn)擊菜單欄上的[M]鍵，點(diǎn)擊［Measurement］標(biāo)簽，根據(jù)提示在對(duì)話(huà)框中選擇波長(zhǎng)測(cè)定范圍、掃描速度、采樣間隔等參數(shù)；
點(diǎn)擊InstrumentParameters］標(biāo)簽，選擇測(cè)定種類(lèi)（吸收值、透射能量、反射率）及通帶（狹縫）等條件。
[GoToWL]鍵設(shè)置到500nm，再點(diǎn)擊[AutoZero]鍵。
五、基線(xiàn)校正：
首先點(diǎn)擊[Baseline]鍵進(jìn)行基線(xiàn)校正。
六、樣品測(cè)定：
樣品放入樣品室后，點(diǎn)擊[Start]鍵即開(kāi)始測(cè)定。完成后，取一個(gè)文件名并保存。
紫外光譜儀的使用步驟分析如下：
一、紫外光譜儀開(kāi)機(jī)前的準(zhǔn)備
1．實(shí)驗(yàn)室溫度應(yīng)保持在15℃~30℃之間，相對(duì)濕度應(yīng)保持在45%~80%之間。
2．確認(rèn)樣品室內(nèi)無(wú)樣品。
二、紫外光譜儀開(kāi)機(jī)
1．開(kāi)啟總電源及UV-2450電源。
2．開(kāi)啟計(jì)算機(jī)電源，雙擊桌面上的UVProbe圖標(biāo)進(jìn)入操作系統(tǒng)。
3．在UVProbe界面上點(diǎn)擊[Connect]鍵，聯(lián)機(jī)并初始化。
三、在紫外光譜儀主菜單上選擇測(cè)定的方式：
?。?）點(diǎn)擊[Kinetics]鍵進(jìn)入動(dòng)力學(xué)測(cè)定方式：一般測(cè)定吸收值隨時(shí)間的變化，通常用于酶反應(yīng)隨時(shí)間的變化。
?。?）點(diǎn)擊[Photometric]鍵進(jìn)入光度測(cè)定（定量）方式：可進(jìn)行多波長(zhǎng)、單波長(zhǎng)、峰高定量。校準(zhǔn)曲線(xiàn)可使用多點(diǎn)、單點(diǎn)、K因子等方法。
?。?）點(diǎn)擊[Spectrum]鍵進(jìn)入光譜測(cè)定方式：可進(jìn)行紫外可見(jiàn)近紅外區(qū)的光譜測(cè)定。
四、紫外光譜儀參數(shù)的設(shè)定：
點(diǎn)擊菜單欄上的[M]鍵，點(diǎn)擊［Measurement］標(biāo)簽，根據(jù)提示在對(duì)話(huà)框中選擇波長(zhǎng)測(cè)定范圍、掃描速度、采樣間隔等參數(shù)；
點(diǎn)擊InstrumentParameters］標(biāo)簽，選擇測(cè)定種類(lèi)（吸收值、透射能量、反射率）及通帶（狹縫）等條件。
[GoToWL]鍵設(shè)置到500nm，再點(diǎn)擊[AutoZero]鍵。
五、基線(xiàn)校正：
首先點(diǎn)擊[Baseline]鍵進(jìn)行基線(xiàn)校正。
六、樣品測(cè)定：
樣品放入樣品室后，點(diǎn)擊[Start]鍵即開(kāi)始測(cè)定。完成后，取一個(gè)文件名并保存。
